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解決方案
太陽能機器視覺專機檢測
太陽能機器視覺專機檢測與定位晶片
焦點
? 易于集成
? 高精度定位:精度±50 μm
? 可檢測晶片0.50mm的深度
? 區別晶片的外形是否呈現“鋸齒”缺陷
? 晶片孔檢測
? 傳送帶與機器部件的光學
? 周期時間可達
? 可靠工作,即使在白天
? 不需要背光
? 空間可以狹小使用,工作距離可達到360mm
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焦點
? 易于集成
? 高精度定位:精度±50 μm
? 可檢測晶片0.50mm的深度
? 區別晶片的外形是否呈現“鋸齒”缺陷
? 晶片孔檢測
? 傳送帶與機器部件的光學
? 周期時間可達
? 可靠工作,即使在白天
? 不需要背光
? 空間可以狹小使用,工作距離可達到360mm
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